As principais características do sistema SCIEX 7500 incluem:

•OptiFlow ™ Fonte de iões pro

É compatível com velocidades de fluxo de 1 µL/min a 3 mL/min sem a necessidade de ajustar a posição da sonda e da agulha de pulverização.

•E Lens ™ Tecnologia

Pode ser usado para velocidades de fluxo de microlitros a velocidades de fluxo de análise convencional, aumentando a sensibilidade em comparação com o uso de espectro de massa de spray elétrico sozinho.

•D Jet ™ Tecnologia de orientação iônica

Aumente a sensibilidade capturando mais íons sem sacrificar a durabilidade.

•Upgradável para um sistema de armadilha de íons linear composto triplo-quadrupolar - QTRAP®Sistema

•Plataforma de software SCIEX OS

Uma única plataforma de software que permite a coleta, processamento e gerenciamento de dados é personalizada para o seu fluxo de trabalho, fácil de aprender e fácil de usar. Melhore a produtividade com Analista ™ Funcionalidades que o software não possui.

•Detectores

Sistema de detector de alta energia para mudança rápida de polaridade em 5 ms com faixa dinâmica linear de até 6 séries- É.

QTRAP®READY

Transcendeseu fluxo de trabalho quantitativo existente; Combine mais padrões de coleta de dados para obter mais dados e informações de uma só vez.SCIEX Triple Quad ™ 7500 LC-MS/MSSistema-QTRAP ® ReadyAtravésQTRAP ReadyTecnologia que amplia a tradiçãoMRMfluxo de trabalho.

Através da direitaMRMUm caminho simples de atualização é o uso do recurso de varredura de armadilha de íons linear, que o ajudará a melhorar as experiências tradicionais de três quatro pólos. Seu fluxo de trabalho não só será mantidoMRMA precisão e a precisão da análise, além de complementar dados mais ricos.

MRMCombinação simultânea de digitalizaçãoQTRAPScanner comoMRM³ou íons reforçados (EPIA varredura não diminui a sensibilidade quantitativa do instrumento.SCIEX 7500no sistema.QTRAPA função quantifica os analíticos a níveis de baixa traça e fornece dados adicionais para que você possa tomar decisões e interpretações confiáveis ​​sobre os dados da amostra.