Vantagens do produto:

Caracterização in situ on-line de vias ópticas laterales

Eficiência de recolha extrema e qualidade robusta graças ao design sem fendas

Design compacto para espaços apertados em estações de radiação sincronizadas

Controle remoto totalmente automatizado

Opções adicionais de caracterização

Para a caracterização in situ de fontes em estações de linha de feixe, o beamLIGHT é a escolha perfeita. Ele integra um espectrómetro compacto sem fendas (50 cm de comprimento). Essa estrutura melhora significativamente a confiabilidade das operações diárias. O beamLIGHT combina a maior eficiência do espectrômetro com cobertura de campo plano de correção de diferença e interruptores automáticos de feixe lateral. O design modular combina com uma variedade de arquiteturas e configurações experimentais. Disponível em versões padrão e ultra-alto vácuo. Funcionalidades de diagnóstico de feixe, como o perfilador de mancha óptica ou o sensor de pré-onda, podem ser adicionadas. As opções de detector incluem câmeras CCD XUV e componentes MCP. Configurações de linha de feixe totalmente personalizadas com espectrômetros on-line in situ são aceitáveis, entre em contato conosco para discutir suas necessidades.

　　Parâmetros técnicos:

　　Aplicações típicas

alta fonte de produção harmônica;

Ciência dos segundos;

Forte interação laser-matéria;

fontes de plasma geradas por laser e descarga;

caracterização de linha de feixe de acelerador sincronizado;

Laser eletrônico livre;

Laser de raios X;

Fonte secundária acionada por laser