O novo EA1280 possui a resolução do detector exigida pelas recomendações do padrão chinês (GB) e oferece maior eficiência de trabalho e precisão analítica em comparação com outros detectores semicondutores, como o diódodo Si-PIN. Especialmente em comparação com outros métodos de análise, a análise de fluorescência de raios-X oferece análise elementar rápida, sem danos e simples, por isso é continuamente usada várias vezes na triagem de conformidade com RoHS.

Usar um novo tipo de detector de semicondutores de alto desempenho (detector de deriva de silício (SDD)) para melhorar a eficiência do trabalho de teste e obter resultados mais confiáveis.

O uso de dispositivos ópticos coaxiais para observação de amostras e radiação de raios-X facilita a análise de várias amostras.

Equipado com software fácil de usar, o operador pode usar o analisador com apenas treinamento simples de controle de qualidade e controle de processo.